Snežana Đorić-Veljković

e-meil: snezana.djoric.veljkovic@gaf.ni.ac.rs

БИОГРАФСКИ ПОДАЦИ

Универзитет у Нишу, Грађевинско-архитектонски факултет

ОПШТИ ПОДАЦИ

Text Box:   

Име и презиме*

Снежана (Миодраг) Ђорић-Вељковић

Датум и место рођења*

10.11.1963., Ниш, Република Србија

Контакт телефон*          

+381 18 588200

E-mail*

snezana.djoric.veljkovic@gaf.ni.ac.rs

ПОДАЦИ О СТЕЧЕНОМ ОБРАЗОВАЊУ

На Филозофском факултету у Нишу, на Наставно-научној групи Физика дипломирала 1988. године са дипломским радом под називом "Нека питања динамике флуида са несиметричним тензорм напона". Магистрирала 1994. године на Катедри за микроелектронику на Електронском факултету у Нишу, где је одбрањена магистарска теза под насловом: "Ефекти гама зрачења код VDMOS транзистора снаге". Докторска дисертацију под насловом "Утицај тестова поузданости на ефекте зрачења код VDMOS транзистора снаге" одбрањена је марта 2006. године, такође на Електронском факултету у Нишу.

РАДНА БИОГРАФИЈА

2000. – сада - Универзитет у Нишу, Грађевинско-архитектонски факултет, Александра Медведева 14, Ниш, Србија

1990. – 2000. - Универзитет у Нишу, Технолошки факулттет, Булевар ослобођења 124, Лесковац, Србија

1989. – 1990. - Иституту за квалитет радне и животне средине "1. мај" у Нишу, Књегиње Љубице 1, Ниш, Србија

 
Учешће на националним пројектима

2011. – сада - Kарактеризација, анализа и моделовање физичких појава у танким слојевима за примену у МОS нанокомпонентама (Пројекат основних истраживања финансиран од стране Министарства просвете и науке, односно Министарства просвете, науке и технолошког развоја Републике Србије) (ОИ171026)

2006.-2010. г - Физика, моделовање и карактеризација појава у танким слојевима код MOS нанокомпонената (Пројекат основних истраживања финансиран од стране Министарства науке и заштите животне средине Републике Србије) (ОИ141048)

2001.-2005. г. - Физика, моделовање и карактеризација диелектричних слојева за MOS нанокомпоненте  (Пројекат основних истраживања финансиран од стране Министарства науке и заштите животне средине Републике Србије)   (102169)

1995.-2000. г. - Микроелектроника, оптоелектроника и микросистемске технологије, потпројекат MOS интегрисана кола и компоненте снаге  (Пројекат основних истраживања финансиран од стране Министарства за науку и технологију Републике Србије) 

1991.-1994. г. - Развој технологија CMOS и VDMOS компонената снаге (Пројекат основних истраживања финансиран од стране Министарства за науку и технологију Републике Србије)

 
Учешће на међународним пројектима

2020. – 2022. г. - Reliability and radiation hardness of Metal/Oxide/High-k/Oxide/Si (MOHOS) structures with various tunneling oxides and laminated and mixed trapping layers (реализатори: САНУ, Kaтeдрa зa микроелектронику Eлектронског факултета у Нишу и Институт за физику чврстог стања Бугарске академије наука у Софији) 

2017. – 2019. г. - Reliability aspects of (irradiated) non-volatile multilayer structures based on high-k Hf (реализатори: САНУ, Kaтeдрa зa микроелектронику Eлектронског факултета у Нишу и Институт за физику чврстог стања Бугарске академије наука у Софији) 

2017.-2019. г. - Development of master curricula for natural disasters risk management in Western Balkan countries, Project number: 573806-EPP-1-2016-1-RS-EPPKA2-CBHE-JP, финансиран од Европске Комисије

2012. – 2016. г. - Dynamic aspects of electrical breakdown of memory capacitors based on high-k Hf- and Al- doped Ta2O5 (реализатори: САНУ, Kaтeдрa зa микроелектронику Eлектронског факултета у Нишу и Институт за физику чврстог стања Бугарске академије наука у Софији) 

2010.-2011. г. - Master Studies Development Program - MSDP in the frame of "Master Program in Civil Engineering – Water Resources Engineering", financed by Austrian Development Cooperation; World University Service – Austrian Committee (WUS AUSTRIA)

2005. – 2007. г. - High-k Stack Capacitors for nanoscale Dynamic Random Acces Memories (DRAMs) (реализатори: САНУ, Kaтeдрa зa микроелектронику Eлектронског факултета у Нишу и Институт за физику чврстог стања Бугарске академије наука у Софији) 

2003.-2004. г. - Energy efficiency in housing sector in South Eastern Europe as head point in education of architects and engineers (реализатори: Technische Fachhochсchule Berlin, Faculty of Architecture Skopje, Faculty of Civil Engineering and Architecture, DAAD)

 

КАТЕДРА

Катедра за математику, физику и информатику

 

ИЗБОРИ У ЗВАЊА

СНЕЖАНА (МИОДРАГ) ЂОРИЋ-ВЕЉКОВИЋ

УЖА НАУЧНА ОБЛАСТ: ПРИМЕЊЕНА ФИЗИКА

Звање

Установа

Датум избора у звање

Редовни професор

Универзитет у Нишу, Грађевинско-архитектонски факултет

06.02.2017.

Ванредни професор

Универзитет у Нишу, Грађевинско-архитектонски факултет

26.12.2011.

Доцент

Универзитет у Нишу, Грађевинско-архитектонски факултет

06.03.2006.

 

 

 

 

СПИСАК РЕФЕРЕНЦИ

СНЕЖАНА (МИОДРАГ) ЂОРИЋ-ВЕЉКОВИЋ

Р. бр.

Аутор-и, наслов, часопис, година, број волумена, странице

Категорија
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, D. Danković, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, A. Prijić, S. Golubović, and, Z. Prijić, "Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors" in Bias Temperature Instability for Devices and Circuits, edited by Tibor Grasser, Springer Science+Business Media New York, pp. 533-559 (2014) ISBN: 978-1-4614-7908-6 (Print) 978-1-4614-7909-3 (e-book)  DOI: 10.1007/978-1-4614-7909-3

M13
  1.  

D. Danković, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Implications of Negative BiasTemperature Instability in Power MOS Transistors" in Micro Electronic and Mechanical Systems, edited by Kenichi Takahata, IN-TECH Press, Boca Raton, pp. 19.319 - 19.342 (2009)  ISBN: 978-953-307-027-8

M13
  1.  

Adrijana Pavlović, Snežana Đorić-Veljković, Jugoslav Karamarković, "The importance of ethylene-tetrafluoroethylene for building daylighting", Facta Universitatis, Series: Architecture and Civil Engineering, vol. 16, no. 3, pp. 355-374 (2018)

ISSN: 0354-4605 DOI: 10.2298/FUACE171129014P    

M24
  1.  

V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, Z. Prijić, A. Prijić, N. Stojadinović, S. Stanković, "NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs", Facta Universitatis, Series: Electronics and Energetics, vol. 31, no. 3, pp. 367-388 (2018) ISSN: 0353-3670 DOI: 10.2298/FUEE1803367D     (invited  paper)

M24
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, S. Stankovic, A. Prijić, Z. Prijić, I. Manić, D. Danković, "NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors", Microelectronics Reliability, vol. 88-90, pp. 135-141 (2018) ISSN: 0026-2714, DOI: 10.1016/j.microrel.2018.07.138 (invited paper)

M22
  1.  

Natalija Janošević, Snežana Đorić-Veljković, Gordana Topličić-Ćurčić, Jugoslav Karamarković, "Properties of geopolymers", Facta Universitatis, Series: Architecture and Civil Engineering, vol. 16, pp. 045-056 (2018) ISSN: 0354-4605  DOI: 10.2298/FUACE161226004J

M24
  1.  
 
V. Davidović, D. Danković, A. Ilić, I. Manić, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, Z. Prijić, A. Prijić, and N. Stojadinović, "Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors", Japanese Journal of Applied Physics, vol. 57, no. 4, article number. 044101-1-10 (2018) ISSN: 0021-4922 DOI: 10.7567/JJAP.57.044101

M23
  1.  

D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, Z. Prijić, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, A. Paskaleva, D. Spassov, N. Stojadinović, "A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 82, March, pp. 28 - 36 (2018)  (review paper) ISSN: 0026-2714 DOI: 10.1016/j.microrel.2018.01.003

M22
  1.  

Sofija M. Rančić, Snežana D. Nikolić-Mandić, Aleksandar Lj. Bojić, Snežana M. Đorić-Veljković, Aleksandra R. Zarubica, Predrag Lj. Janković, "Application of the reaction system methylene blue B-(NH4)(2)S2O8 for the kinetic spectrophotometric determination of palladium in citric buffer media", Hemijska industrija, vol. 71, issue: 2, pp. 97-104 (2017) ISSN: 0367-598X  DOI: 10.2298/HEMIND140821080R

M23
  1.  

Marija Stojanović Krasić, Ana Mančić, Slavica Kuzmanović, Snežana Đorić Veljković, Milutin Stepić, "Linear and interface defects in composite linear photonic lattice", Optics Communications, vol. 394, no. 1, pp. 6-13 (2017) ISSN: 0030-4018 DOI: 10.1016/j.optcom.2017.02.021

M22
  1.  

V. Davidović, D. Danković, A. Ilić, I. Manić, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, Z. Prijić, N. Stojadinović, "NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors", IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 63, no. 2, pp. 1268-1275 (2016) ISSN: 0018-9499   DOI: 10.1109/TNS.2016.2533866

M21
  1.  

I. Manić, D. Danković, V. Davidović, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, "Effects of Pulsed Negative Bias Temperature Stressing in P-Channel Power VDMOSFETs", Facta Universitatis, Series: Electronics and Energetics, vol. 29, no. 1, pp. 49-60 (2016) (invited  paper)  ISSN: 0353-3670   DOI: 10.2298/FUEE1601049M    

M24
  1.  

D. Danković, N. Stojadinović, Z. Prijić, I. Manić, V. Davidović, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, "Analysis of Recoverable and Permanent Components of Threshold Voltage Shift in NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFET", Chinese Physics B, vol. 24, no. 10, pp. 106601-1-9 (2015) ISSN: 1674-1056  DOI: 10.1088/1674-1056/24/10/106601

M22
  1.  
 
D. Danković, I. Manić, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, N. Stojadinović, Z. Prijić, S. Golubović, "Negative Bias Temperature Instability in P-Channel Power VDMOSFETs: Recoverable Versus Permanent Degradation", Semiconductor Science and Technology, vol. 30, pp.105009-1-9 (2015)  ISSN: 0268-1242  DOI: 10.1088/0268-1242/30/10/105009

M21
  1.  
 
S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Annealing Influence on Recovery of Electrically Stressed Power Vertical Double-Diffused Metal Oxide Semiconductor Transistors", Japanese Journal of Applied Physics, vol. 54, no. 6, article number. 064101-1-7 (2015) ISSN: 0021-4922 DOI: 10.7567/JJAP.54.064101  

M23
  1.  

A. Jovanović, P. Pejić, S. Djorić-Veljković, J. Karamarković, M. Djelić, "Importance of building orientation in determining daylighting quality in student dorm rooms: Physical and simulated daylighting parameters’ values compared to subjective survey results", Energy and Buildings, vol. 77, pp. 158-170 (2014) ISSN: 0378-7788 DOI: 10.1016/j.enbuild.2014.03.048

M21a
  1.  

S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power VDMOSFETs", Nuclear Technology & Radiation Protection, vol. 28, no. 4, pp. 406-414 (2013) ISSN: 1451-3994 DOI: 10.2298/NTRP1304406D

M22
  1.  

D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, and N. Stojadinović, "Effects of Static and Pulsed Negative Bias Temperature Stressing on Lifetime in p-Channel Power VDMOSFETs", Informacije MIDEM-Journal of Microelectronics Electric Components and Materials, vol. 43, iss. 1, pp. 58-66 (2013) ISSN: 0352-9045 

M23
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, "Lifetime Estimation in NBT-Stressed P-Channel Power VDMOSFETs", Facta Universitatis: Series Automatic Control and Robotics, vol. 11, no. 1, pp. 15-23 (2012)  ISSN: 1820-6417   UDC 621.3.049.77 621.3.019.3 621.382.323

M24
  1.  

I. Manić, D. Danković, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, and N. Stojadinović, "NBTI Related Degradation and Lifetime Estimation in p-Channel Power VDMOSFETs Under the Static and Pulsed NBT Stress Conditions", Microelectronics Reliability, vol. 51, no. 9-11, pp. 1540 - 1543 (2011) ISSN: 0026-2714 DOI: 10.1016/j.microrel.2011.06.004      

M22
  1.  

S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Annealing of Radiation-Induced Defects in Burn-in Stressed Power VDMOSFETs", Nuclear Technology & Radiation Protection, vol. 26, no. 1, pp. 18-24 (2011) 

M23
  1.  

N. Stojadinović, D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, "Threshold Voltage Instabilities in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed NBT Stress", Microelectronics Reliability, vol. 50, pp. 1278-1282 (2010)

M22
  1.  

I. Manić, D. Danković, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Effects of Low Gate Bias Annealing in NBT Stressed p-Channel Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 49, pp. 1003 - 1007 (2009)

M22
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Negative Bias Temperature Instability in n-Channel Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 48, pp. 1313 - 1317 (2008)

M22
  1.  

V. Davidović, N. Stojadinović, D. Danković, S. Golubović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, and S. Dimitrijev, "Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors", Japanese J. Appl. Phys, vol. 47, pp. 6272-6276 (2008)

M22
  1.  

I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, N. Stojadinović, "Mechanisms of Spontaneous Recovery in DC Gate Bias Stressed Power VDMOSFETs", IEE Proc. - Circuits, Devices and Systems, vol. 2, pp. 213-221 (2008)

M23
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, N. Stojadinović, "Negative Bias Temperature Instabilities in Sequentialy Stressed and Annealed in p-Channel Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 47, pp. 1400 - 1405 (2007)

M22
  1.  

D. Danković, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, "NBT Stress-Induced Degradation and Lifetime Estimation in p-channel Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 46 , pp. 1828 - 1833 (2006)

M22
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs", IEE Proc.- Circuits, Devices and Systems, vol. 153, pp. 281-288 (2006) 

M22
  1.  

N. Stojadinović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, I. Manić, S. Golubović, "Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 45, pp. 1343-1348 (2005)

M23
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Effects of Electrical Stressing in Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 45, pp. 115-122 (2005) (invited  paper)

M22
  1.  

S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović and N. Stojadinović, "Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 43, pp. 1455-1460 (2003)

M22
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 42, pp. 1465-1468 (2002)

M22
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, and S. Golubović, "Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs", Microelectronics Journal, vol. 33, pp. 899-905 (2002)

M22
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 42, pp. 669-677 (2002)

M22
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović and S. Golubović, "Radiation hardening of power VDMOSFETs using electrical stress", Electronics Letters, vol. 38, pp. 431-431 (2002)

M21
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Mechanisms of Positive Gate Bias Stress Induced Instabilities in Power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, vol. 41, pp. 1373-1378 (2001)

M23
  1.  

S. Golubović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, and N. Stojadinović, "Modeling of g-irradiation and lowered temperature effects in power VDMOS transistors", Japanese J. Appl. Phys, vol. 38, pp. 4699-4702 (1999), N. Stojadinović, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, and V. Davidović, "Correction to "Modeling of g-irradiation and lowered temperature effects in power VDMOS transistors"", Japanese J. Appl. Phys, vol. 40 (3A), p. 1530 (2001)

M21
  1.  

N. Stojadinović, S. Golubović, V. Davidović, S. Djorić-Veljković and S. Dimitrijev, "Modeling Radiation-Induced Mobility Degradation in MOSFETs", Phys. Stat. Sol. (a), vol. 169, pp. 63-66 (1998)

M22
  1.  

N. Stojadinović, S. Golubović, S. Djorić and S. Dimitrijev, "Analysis of Gamma-Irradiation Induced Degradation Mechanisms in Power VDMOSFETs", Microelectronics and Reliability, vol. 35, pp. 587-602 (1995)

M22
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić, S. Golubović and V. Davidović, "Separation of Irradiation Induced Gate Oxide Charge and Interface Traps Effects in Power VDMOSFETs", Electronics Letters, vol. 30, pp. 1992-1993 (1994)

M21
  1.  

D. Spassov, A. Paskaleva, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Stanković, N. Stojadinović, Tz. Ivanov, and T. Stanchev, "Impact of g Radiation on Charge Trapping Properties of Nanolaminated HfO2/Al2O3 ALD Stacks", Proc. 31th International Conference on Microelectronics (MIEL‘19), Niš, September 16-18, 2019 (pp. 59-62)  DOI: 10.1109/MIEL.2019.8889600, ISBN: 978-1-7281-3418-5

M33
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, S. Stankovic, A. Prijić, Z. Prijić, I. Manić, D. Danković, "NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors", 29th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Aalborg, Denmark, October 01-05, 2018 (pp. 135-141)  DOI: 10.1016/j.microrel.2018.07.138 (invited paper)

M31
  1.  

Gordana Topličić-Ćurčić, Aleksandar Keković, Dušan Grdić, Snežana Đorić - Veljković, Zoran Grdić, "Phase change materials (PCMs) – Innovative materials for improvement of energy effienciency of buildings", 6 th International conference "Contemporary achievements in civil engineering" 20. April 2018. Subotica, SERBIA, Conference Proceedings of  6 th International conference "Contemporary achievements in civil engineering", Faculty of civil engineering Subotica, Subotica 2018, publisher: Faculty of civil engineering Subotica, University of Novi Sad, UDK: 66.018.4:697, DOI:10.14415/konferencijaGFS2018.032, pp. 323 – 334, ISBN: 978-86-80297-73-6

 

M33
  1.  

V. Davidović, A. Paskaleva, D. Spassov, E. Guziewicz, T. Krajewski, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, D. Danković, and N. Stojadinović, "Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks", Proc. 30th International Conference on Microelectronics (MIEL‘17), Niš, October 9-11, 2017 (pp. 143-146)  DOI: 10.1109/MIEL.2017.8190088, ISBN: 978-1-5386-2561-3

M33
  1.  

D. Danković, I. Manić, N. Stojadinović, Z. Prijić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, A. Prijić, A. Paskaleva, D. Spassov, and S. Golubović, "Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs", Proc. 30th International Conference on Microelectronics (MIEL‘17), Niš, October 9-11, 2017 (pp. 147-151)  DOI: 10.0.4.85/MIEL.2017.8190089, ISBN: 978-1-5386-2561-3

M33
  1.  

A. Jovanović, S. Djorić-Veljković, J. Karamarković, P. Pejić, "Towards determining daylighting conditions in student dormitories-a South Eastern Europe Case Study", Proc. of World Sustainable Buildings Conference Barselona, (WSB 14), Barcelona, 28-30 October 2014 (vol. 4, session 136, pp. 395-1-7)   ISBN: 978-84-697-1815-5

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, V. Davidović, D. Danković, I. Manić, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors", Proc. 29th International Conference on Microelectronics (MIEL‘14), Belgrade, May 2014 (pp. 293-296)  DOI: 10.1109/MIEL.2014.6842146

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, J. Karamarković, D. Randjelović, M. Vasov, H. Krstić, "Room surfaces colours and interior lightening", Proc. of 2013 - “Color in all directions”, Third International Color Conference for the Southeast European Countries, Veliko Tarnovo, Bulgaria, 18. - 20. June 2013 (pp. 577-589)   ISSN: 1313-4884

M33
  1.  

Dusan Randjelovic, Miomir Vasov, Jugoslav Karamarkovic, Snezana Djoric-Veljkovic, Hristina Krstic, "The influence of interior colors for efficient energy consumption", Proc. of 2013 - “Color in all directions”, Third International Color Conference for the Southeast European Countries, Veliko Tarnovo, Bulgaria, 18.-20. June 2013 (pp. 557-567)   ISSN: 1313-4884

M33
  1.  

S. Rančić, S. Djorić-Veljković, A. Zarubica, "Environmentally friendly colors", Proc. of 2013 - “Color in all directions”, Third International Color Conference for the Southeast European countries, Veliko Tarnovo, Bulgaria, 18.-20. June 2013 (pp. 496-501)   ISSN: 1313-4884

M33
  1.  

S. Đorić-Veljković, S. Rančić, P. Janković, B. Rančić, "Using Novel Systems and Installations for Introducing Daylight", Proc. of 9th Scientific Technical Conference Contemporary Theory and Practice in Building Development, Banja Luka, 11.-12. April 2013 (pp. 405-413) ISBN: 978-99955-630-8-0

M33
  1.  

S. Đorić-Veljković, J. Karamarković, "Challanges and Possibilities of Application of OLED Light Sources", Proc. Innovation as a Function of Engineering Development (IDE 2011), Niš, 25-26 November 2011 (pp. 103-108)  publisher: Faculty of Civil engineering and Architecture ISBN: 978-86-80295-98-5, COBISS.SR – ID 187462412

M33
  1.  

I. Manić, D. Danković, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, and Z. Prijić, N. Stojadinović, "NBTI Related Degradation and Lifetime Estimation in p-Channel Power VDMOSFETs Under the Static and Pulsed NBT Stress Conditions", Proc. 22nd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Bordeaux (France) 3-7 October 2011,(pp. 1540-1543), also Microelectronics Reliability 2011, ISSN: 0026-2714

M33
  1.  

I. Manić, D. Danković, S. Djorić-Veljković, A. Prijić, V. Davidović, S. Golubović, Z. Prijić, and N. Stojadinović, "Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress", Proc. 10th International. Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2010), Prague (Czech Republic) September 2010 pp. 173-178

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, D. Danković, A. Prijić, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, Z. Prijić and N. Stojadinović, "Degradation of p-channel Power VDMOSFETs under Pulsed NBT Stress", Proc. 27th International Conference on Microelectronics (MIEL 2010), Niš, May 2010 (pp. 443-446)

M33
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "Negative Bias Temperature Sress and Annealing Effects in p-Channel Power VDMOSFETs", Proc. 9th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS‘08), Prague, August 2008 (pp.127-133)

M33
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, and N. Stojadinović, "New Approach in Estimating the Lifetime in NBT Stressed p-Channel Power VDMOSFETs", Proc. 26th International Conference on Microelectronics (MIEL‘08), Niš, May 2008 (pp.599-602)

M33
  1.  

N. Stojadinović, D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, and S. Golubović, "Impact of Negative Bias Temperature Instabilities on Lifetime in p-Channel Power MOSFETs", Proc. 8th International Conference on Telecommunications in Modern Satellite, Cable and Broadcasting Services (TELSIKS 2007), Niš (Serbia), September 2007 (pp. 275-282) (invited paper)  

M31
  1.  

V. Davidović, N. Stojadinović, D. Danković, S. Golubović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, S. Dimitrijev, "Turn-around of threshold voltage in gate bias stressed p-channel power VDMOS transistors", Proc. 9th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2006), Prague, September 2006 (pp.85-89)

M33
  1.  

D. Danković, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, "Lifetime estimation in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs", Proc. 25th International Conference on Microelectronics (MIEL 2006), Beograd, May 2006 (pp. 645-648)

M33
  1.  

I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, N. Stojadinović, "Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs", Proc. 25th International Conference on Microelectronics (MIEL 2006), Beograd, May 2006 (pp.639-644)

M33
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, S. Dimitrijev, "Electrical stressing effects in power VDMOSFETs", Proc. 7th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2004), Prague, September 2004 (pp. 109-114)

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, N. Stojadinović, "Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs", Proc. 24th International Conference on Microelectronics (MIEL 2004), Niš, May 2004 (pp.701-704)

M33
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Effects of Electrical Stressing in Power VDMOSFETs", Conference on Electron Devices and Solid-StateCircuits (EDSSC 2003), Hong Kong (China), December 2003 (pp. 291-296)

M33
  1.  

V. Davidović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, D. Danković, S. Golubović, S. Dimitrijev and N. Stojadinović, "Effects of Negative Gate Bias Stressing in Power VDMOSFETs", 7th International Symposium on Microelectronics Technologies and Microsistems (MTM 2003), Sozopol (Bulgaria), September 2003 (pp.150-155)

M33
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović and S. Golubović, "Radiation Response of Elevated-Temperature Bias Stressed Power VDMOSFETs", Proc. 6th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2002), Prague (Czech Republic), September 2002 (pp. 69-74)

M33
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović and S. Golubović, "Effects of Positive Gate Bias Stress on Radiation Response in Power VDMOSFETs", Proc. 23nd International Conference on Microelectronics (MIEL 2002), Niš, May 2002 (pp. 723-726)

M33
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Spontaneous Recovery of Positive Gate Bias Stressed Power VDMOSFETs", Proc. 23nd International Conference on Microelectronics (MIEL 2002), Niš, May 2002 (pp. 717-722

M33
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, and S. Dimitrijev, "Effects of Positive Gate Bias Stressing and Subsequent Recovery Treatment in Power VDMOSFETs", Proc. 4th IEEE International Caracas Conference on Devices, Circuits, and Systems (ICCDCS 2002), Aruba (Dutch Caribbean), 15-17 April 2002, pp. DO50-1 ‑ DO50-8. (invited paper)

M31
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, I. Manić, and S. Golubović, "Gamma-Irradiation Effcets in Power MOSFETs for Applications in Communications Satellites", Proc. 5th International Conference on Telecommunications in Modern Satellite, Cable and Broadcasting Services (TELSIKS 2001), Niš, September 2001 (pp. 395-400)

M33
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, and S. Golubović, "Effects of Elevated-Temperature Bias Stressing on Radiation Response in Power VDMOS Transistors", Proc. 8th International Symposium on the Physical&Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2001), Singapore, July 2001 (pp. 243-248)

M33
  1.  

I. Manić, Z. Pavlović, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, and N. Stojadinović, "Effects of g-Irradiation on Drain Current and Transconductance in Power VDMOS Transistors", Proc. 8th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES 2001), Zakopane (Poland), June 2001 (pp. 333-338)

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović and N. Stojadinović, "Radiation Effects in Low-Temperature Stressed Power VDMOS Transistors", Proc. 23rd International Semiconductor Conference (CAS’2000), Sinaia (Romania), October 2000 (pp. 337-340)

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković, S. Golubović, V. Davidovic, and N. Stojadinović, "Power VDMOS Transistors Response to Lowered Temperature Conditions", Proc. 22nd International Conference on Microelectronics (MIEL 2000), Niš, May 2000 (pp. 383-386)

M33
  1.  

V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović and N. Stojadinović,  "Room Temperature Relaxation of Irradiated and Cooled Power VDMOS Transistors", Proc. 6th International Conference on Mixed Design  of Integrated Circuits And Systems (MIXDES 1999), Krakow (Poland), June 1999 (pp. 291-294)

M33
  1.  

N. Stojadinović, S. Golubović, V. Davidović, S. Djorić-Veljković and S. Dimitrijev, "Modeling of Radiation-Induced Mobility Degradation in MOSFETs", Proc. 21st International Conference on Microelectronics (MIEL 1997), Niš, September 1997 (pp. 355-356)

M33
  1.  

S. Djorić-Veljković and V. Davidović, "Analysis of Gamma-Irradiation Induced Oxide Charge and Interface Trap Effects in Power VDMOSFETs", Proc. 20th International Conference on Microelectronics (MIEL 1995), vol. 1, Niš, September 1995 (pp.  259-262)

M33
  1.  

Snežana Đorić-Veljković, Predrag Janković, Sofija Rancić, Momčilo Kocić, Marija Stojanović-Krasić, "Novel materials for optical fibers", Book of abstracts 12th symposium, "Novel technologies and economic development", Leskovac, 18-19 October 2019 (s. 135)

M34
  1.  

M. Stojanovic Krasić, A. Mančić, S. Kuzmanović, S. Đorić Veljković and M. Stepić, "Light propagation through the composite linear photonic lattice containing two nonlinear defects", Proc. of 5th International School Conference on Photonics (Photonica 2015), Belgrade (Serbia), 24.–28. Avgust 2015 (pp. 70-71) ISBN: 978-86-7306-131-3

M34
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Djorić-Veljković, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs" - Invited paper, 1st International Conference on Electrical and Electronic Engineering (ICEEE 2004), Acapulco (Mexico), September 2004, тakoђe и у Microelectronics Reliability (2005)

M34
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović and S. Golubović, "Electrical Stress Effects in Thick Gate Oxides for Power MOS Devices", 12th International School on Condensed Matter Physics (ISCMP 2002), Varna (Bulgaria), September 2002

M34
  1.  

N. Stojadinović , I. Manić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Effects of Negative Gate Bias Stressing in Thick Gate Oxides for  Power VDMOSFETs", Abstract Booklet 12th Workshop on Dielectrics in Microelectronics (WoDiM 2002), Grenoble (France), November 2002 (pp. 41-44)

M34
  1.  

S. M. Rančić, S. D. Nikolić-Mandić, A. Lj. Bojić, S. M. Đorić-Veljković, A. R. Zarubica, P. Lj. Janković, "Primena reakcionog sistema alizarin-H2O2 u boratnom puferu za spektrofotometrijsko kinetičko određivanje nikla", Advanced technologies, vol. 4, no. 2,  pp. 60-64  (2015) doi:10.5937/savteh1502060R UDK: 546.742:543.48

M52
  1.  

М. Petrović, S. Đorić-Veljković, J. Karamarković, "Zaštita životne sredine u građevinarstvu sa osvrtom na primenu ekoloških i nano materijala", Vojno tehnički glasnik/Military Technical Courier, vol. 63, no. 2, pp. 179-194 (2015)    DOI: 10.5937/vojtehg63-6478, ISSN: 0042-8469, e-ISSN: 2217-4753

M52
  1.  

Snežana Đorić-Veljković, Sofija Rančić, Predrag Janković, "Primena optičkih vlakana za uvođenje svetlosti u objekte", Zbornik radova Građevinsko-arhitektonskog fakulteta, br. 28, str. 185-194 (2013)  ISSN: 1452-2845     UDK: 666.189.21:666.22:628.9

M52
  1.  

М. Petrović, S. Đorić-Veljković, J. Karamarković, "Puasonov potok događaja kao model za prolazak vozila kroz presek puta", Zbornik radova Građevinsko-arhitektonskog fakulteta, Niš, str.181-188 (2010), ISSN: 1452-2845 

M52
  1.  

Snežana Đorić-Veljković, Vojkan Davidović, Danijel Danković, Snežana Golubović and Ninoslav Stojadinović, "Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova 63. konferencije za ETRAN, Srebrno jezero, 03-06 jun 2019, str. 601-604.

M63
  1.  

Vojkan Davidović, Danijel Danković, Snežana Golubović, Snežana Đorić-Veljković, Ivica Manić, Zoran Prijić, Aneta Prijić, Ninoslav Stojadinović, “Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanju”, Zbornik radova 62. konferencije za ETRAN, Palić, 11-14 jun 2018, str. 299-303.

M63
  1.  

Vojkan Davidović, Albena Paskaleva, Dencho Spassov, Ezbieta Guziewicz, Tomasz Krajewski, Snežana Golubović, Snežana Đorić-Veljković, Ivica Manić, Danijel Danković, Ninoslav Stojadinović, "Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponente", Zbornik 61. Konferencije za elektroniku, telekomunikacije, računarstvo, automatiku i nuklearnu tehniku, ETRAN 2017, MO1.1.1-MO1.1.4, Kladovo, 05.-08. jun 2017.  (nagrađen rad)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, N. Stojadinović, "Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova LVII konferencije za ETRAN, Zlatibor, 3-6. jun 2013 (str. MO1.2-1-6) (nagrađen rad)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, S. Rančić, "Innovative Systems and Installation for Providing of Light Into the Buildings", Zbornik radova III Naučno-stručnog simpozijuma Instalacije & arhitektura I&A, Beograd, 8. novembar 2012 (str. 183-189) ISBN: 978‐86‐7924‐086‐6  Izdavač: Arhitektonski Fakultet Univerzitet u Beogradu 

M63
  1.  

D. Danković, A. Prijić, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, S. Đorić-Veljković, "Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima", Zbornik radova LVI konferencije za ETRAN, Zlatibor, 11-14 Jun 2012 (str. MO1.1-1- MO1.1-4)         

M63
  1.  

М. Petrović, S. Đorić-Veljković, J. Karamarković, "Puasonov potok događaja kao model za prolazak vozila kroz presek puta", Saopšten na Konferenciji Sinergija Arhitekture i građevinarstva, Novembar 2010, Niš, Takođe, Zbornik radova Građevinsko-arhitektonskog fakulteta, Niš, str. 181-188 (2010)

M63
  1.  

Snežana Đorić-Veljković, "Priroda i svojstva elektromagnetnog zračenja i termografija", Zbornik radova I Naučno-stručnog simpozijuma Instalacije & arhitektura I&A, Beograd, 28-29. oktobar 2010 (str. 273-282)

M63
  1.  

D. Danković, A. Prijić, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, Z, Prijić, S. Djorić-Veljković, "Instabilities in p-Channel Power VDMOSFETs Subjected to Pulsed Negative Bias Temperature Stressing", Zbornik radova LIV konferencije za ETRAN, Donji Milanovac, 7-10. jun 2010 (str. MO1.1-1-4)

M63
  1.  

Đ. Kostadinović, D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, "Efekti spontanog oporavka kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage naprezanih jakim električnim poljem u oksidu gejta", Zbornik radova LIII konferencije za ETRAN, Vrnjačka Banja, 15-18 jun 2009 (str. MO1.2-1-4)

M63
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, "Instabilities in p-channel power VDMOSFETs Subjected to Multiple Negative Bias Temperature Stressing and  Annealing", Zbornik radova LIII konferencije za ETRAN, Vrnjačka Banja, 08-12 jun 2009 (str. MO1.1-1-4)        

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, "Efekti NBT naprezanja i odžarivanja kod P-kanalnog VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova LII konferencije za ETRAN, Palić, 08-12 jun 2008 (str. MO1.3-1-4)

M63
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, "Life Time Evaluation in p-channel Power VDMOSFETs Under NBT Stress", Zbornik radova LII konferencije za ETRAN, Palić, 08-12 jun 2008 (str. MO1.2-1-4) (nagrađen rad)

M63
  1.  

D. Danković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, "Nestabilnosti p-kanalnog VDMOS tranzistora snage usled naponsko-temperaturnih naprezanja sa negativnom polarizacijom gejta", Zbornik radova XLIX jugoslovenske konferencije za ETRAN, Budva, jun 2005, sveska IV (str. 129-132) (nagrađen rad)

M63
  1.  

V. Davidović, N. Stojadinović, D. Danković, S. Golubović, I. Manić, S. Djorić-Veljković, S. Dimitrijev, "Turn-around efekat napona praga kod PMOS tranzistora naprezanih pozitivnim naponima na gejtu", Zbornik radova XLIX jugoslovenske konferencije za ETRAN, Budva, jun 2005, sveska IV (str. 125-128)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, "Uticaj temperaturno-naponskih testova pouzdanosti na efekte odžarivanja kod ozračenih VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLVII jugoslovenske konferencije za ETRAN, Herceg Novi, jun  2003, sveska IV (str. 187-190)

M63
  1.  

I. Manić, V. Davidović, D. Danković, S. Golubović, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, S. Dimitrijev, "Efekti naprezanja negativnom polarizacijom na gejtu kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLVII jugoslovenske konferencije za ETRAN, Herceg Novi, jun  2003, sveska IV (str. 183-186)

M63
  1.  

V. Davidović, S. Golubović, I. Manić, D. Danković, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković,  S. Dimitrijev, "Primena tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLVI jugoslovenske konferencije za ETRAN, Banja Vrućica (Republika  Srpska), jun 2002, sveska IV (str. 145-148)

M63
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, "Uticaj električnog naprezanja na otpornost VDMOS tranzistora snage na zračenje", Zbornik radova XLVI jugoslovenske konferencije za ETRAN, Banja Vrućica (Republika Srpska), jun 2002, sveska IV (str. 142-144)

M63
  1.  

N. Stojadinović, I. Manić, S. Golubović, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Dimitrijev, "Efekti naprezanja pozitivnom polarizacijom na gejtu kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLV jugoslovenske konferencije za ETRAN, Bukovička Banja,  jun 2001, sveska IV (str. 204-207) 

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, N. Stojadinović, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, "Uticaj temperaturno- naponskih testova pouzdanosti na efekte zračenja kod VDMOS tranzistora snage”, Zbornik radova XLV jugoslovenske konferencije za ETRAN, Bukovička Banja, jun 2001, sveska IV (str. 200-203)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, S. Golubović, V. Davidović and N. Stojadinović, "Efekti niskih temperatura kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLIV jugoslovenske konferencije za ETRAN, Soko Banja,  jun 2000, sveska IV (str. 185-188)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, S. Golubović, V. Davidović i N. Stojadinović, "Uticaj različitih naprezanja na formiranje latentnih defekata tokom spontanog oporavka VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XLIII jugoslovenske konferencije za ETRAN, Zlatibor, septembar 1999, sveska IV (str. 139-141)

M63
  1.  

M. Kocić, S. Djorić-Veljković, Z. Veljković, S. Stojiljković i D. Stojiljković, "Neki aspekti tehnologije optičkih vlakana", Zbornik radova II simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1996 (str. 58-59)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković, Z. Veljković, M. Kocić, D. Vučić, "Pitanje odlaganja i mogućnosti uništavanja radioaktivnog otpada", Zbornik radova II simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1996 (str. 60-63)

M63
  1.  

S. Djorić-Veljković i V. Davidović, "Analiza efekata gama zračenjem indukovanih naelektrisanja u oksidu i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova XXXIX jugoslovenske konferencije za ETRAN, Zlatibor, jun 1995 (str. 139-142)

M63
  1.  

D. Vučić, M. Kocić, D. Stojiljković, S. Djorić, S. Žerajić, "Mojre metoda izračunavanja elastične deformacije savijanja kružne ploče", Zbornik radova I simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1995 (str. 69-73)

M63
  1.  

S. Djorić, M. Kocić, D. Vučić, "Fraunhoferova difrakcija svetlosti na pukotini koja je pokrivena sa dva fazna sloja", Zbornik radova I simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1995 (str. 11-16)

M63
  1.  

S. Dimitrijev, S. Djorić, S. Golubović and N. Stojadinović, "Analysis of Gamma-Irradiation Induced Degradation Mechanisms in Power MOSFETs: Creation of Gate Oxide Charge and Interface Traps", Proc. 2nd Serbian Conference on Microelectronics and Optoelectronics (MIOPEL 93), Niš, October 1993 (pp. 73-79) (nagrađen rad)

M63
  1.  

N. Stojadinović, S. Djorić, S. Golubović and S. Dimitrijev, "Analysis of Gamma-Irradiation Induced Degradation Mechanisms in Power MOSFETs: Changes in Gate Oxide Charge and Interface Traps", Proc. 2nd Serbian Conference on Microelectronics and Optoelectronics (MIOPEL 93), Niš, October 1993 (pp. 67-72)

M63
  1.  

S. Golubović, G. Ristić. S. Djorić i N. Stojadinović, "Efekti gama-zračenja kod VDMOS tranzistora snage", Zbornik radova I Srpske konferencije o mikro i optoelektronici (MIOPEL 92), Beograd, 1992 (str. 1-3)

M63
  1.  

Predrag Janković, Snežana Đorić-Veljković, Sofija Rančić, "Problem of water quality in water jet cutting machines", Book of abstracts 12th symposium, "Novel technologies and economic development", Leskovac, 20-21 October 2017 (s. 133)  ISBN 978-86-89429-22-0

M64
  1.  

Gordana Topličić-Ćurčić, Snežana Đorić-Veljković, Jugoslav Karamarković, "Phase change materials in green building", Book of abstracts 12th symposium, "Novel technologies and economic development", Leskovac, 20-21 October 2017 (s. 150)  ISBN 978-86-89429-22-0

M64
  1.  

Marija Stojanović-Krasić, Slavica Jovanović, Ana Mančić, Snežana Đorić-Veljković, "Light propagation through the system of two nonlinear one-dimensional structuraly different photonic lattices", Book of abstracts 12th symposium, "Novel technologies and economic development", Leskovac, 20-21 October 2017 (s. 171)  ISBN 978-86-89429-22-0

M64
  1.  

S. Rančić, S. Nikolić-Mandić, A. Bojić S. Đorić-Veljković, A. Zarubica, P. Janković,"Određivanje Ni(II) u rastvoru", Zbornik izvoda radova XI simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 23-24 oktobar 2015 (s. 157)  ISBN: 978-86-89429-12-1

M64
  1.  

S. Đorić-Veljković, S. Rančić, P. Janković, M. Kocić, M.  Stojanović-Krasić, Lj. Antić, "Transmission of the visible region of electromagnetic radiation spectrum through optical fibers", Zbornik izvoda radova XI simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 23-24 oktobar 2015 (s. 156)  ISBN: 978-86-89429-12-1

M64
  1.  

S. Đorić-Veljković, M. Kocić, D. Ranđelović, Lj. Antić, "Optička vlakna kao medijum za prenošenje dnevne svetlosti", Zbornik izvoda radova X simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 22-23 oktobar 2013 (s. 160)  ISBN: 978-86-82367-98-7

M64
  1.  

S. Rančić, S. Nikolić-Mandić, A. Bojić S. Đorić-Veljković, "Određivanje Co(II) u rastvoru", Zbornik izvoda radova X simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 22-23 oktobar 2013 (s. 175)  ISBN: 978-86-82367-98-7

M64
  1.  

S. Rančić, S. Đorić-Veljković, P. Janković, "Primena polimetilmetakrilata u proizvodnji optičkih vlakana za specifične namene", Zbornik izvoda radova X simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 22-23 oktobar 2013 (s. 128)  ISBN: 978-86-82367-98-7

M64
  1.  

S. Zdravković, S. Djorić-Veljković i M. Kocić, "Interakcija jonizujućeg zračenja sa materijom", Zbornik izvoda radova IX simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, 21-22 oktobar 2011 (s. 157)  ISBN: 978-86-82367-92-5                    Издавач: Технолошки факултет у Лесковцу

M64
  1.  

S. Djorić-Veljković i M. Kocić, "Elementi slabljenja talasa u svetlovodima", Zbornik izvoda radova VIII simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, oktobar 2009 (s. 169)

M64
  1.  

S. Djorić-Veljković i M. Kocić, "Neki elementi tehnologije optičkih vlakana", Zbornik izvoda radova VII simpozijuma "Savremene tehnologije i privredni razvoj", Leskovac, oktobar 2007 (s. 157)

M64
  1.  

S. Djorić-Veljković i M. Kocić, "Neki aspekti slabljenja talasa u svetlovodima", Zbornik izvoda radova VI  simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 2005 (s. 146) 

M64
  1.  

M. Kocić, S. Djorić-Veljković i D. Vućić, "Neke karakteristike slabljenja talasa u svetlovodima", Zbornik izvoda radova V simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 2003 (s. 126)

M64
  1.  

M. Kocić, D. Vućić i S. Djorić-Veljković, "Primena Freinelovih integrala kod rešenja problema difrakcije svetlosti konstantne amplitude na uskom prorezu", Zbornik izvoda radova V simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 2003 (str. 124-125)

M64
  1.  

S. Djorić-Veljković, M. Kocić, D. Stojiljković i N. Cakić, "Elementi razvoja tehnologije optićkih vlakana i optićkih kablova", Zbornik izvoda radova IV simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 2001 (s. 151)

M64
  1.  

D. Stojiljković, M. Kocić and S. Djorić-Veljković, "Application of the system of differential equations to modelling the breaking of the yarns", XIII Conference on Applied Mathematics PRIM’98 Abstracts, Igalo, May 1998 (p. 42)

M64
  1.  

D. Vućić, M. Kocić i S. Djorić-Veljković, "Standardizacija nivoa bezbednosti u sistemu radijacione zaštite", Zbornik izvoda radova III simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1998  (s. 46)

M64
  1.  

M. Kocić, S. Djorić-Veljković i D. Stojiljković, "Elementi slabljenja talasa u optićkim vlaknima", Zbornik izvoda radova III simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1998 (s. 48)

M64
  1.  

S. Djorić-Veljković, M. Kocić, D. Stojiljković i D. Vućić, "Neka pitanja razvoja tehnologije optićkih vlakana i optićkih kablova", Zbornik izvoda radova III simpozijuma “Savremene tehnologije i privredni razvoj”, Leskovac, oktobar 1998 (s. 47)

M64